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PRODUCT CLASSIFICATION
產(chǎn)品分類產(chǎn)品展示/ Product display
透明部件畸變與薄膜相位差不均勻性評(píng)估儀器日本 Photonic Lattice PA/WPA 系列位相差測(cè)量系統(tǒng)，可精準(zhǔn)評(píng)估透明部件畸變與薄膜相位差不均勻性，覆蓋顯微鏡尺寸至約 50cm 大尺寸樣品。PA 系列 0~130nm 低相位差高速高分辨率測(cè)量，適配玻璃 / 鏡頭；WPA 系列三波長(zhǎng)技術(shù)拓展至 0~3500nm，適配高相位差透明樹脂，全場(chǎng)景覆蓋光學(xué)元件質(zhì)控需求。
產(chǎn)品型號(hào)：PA 、WPA 系列廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商更新時(shí)間：2026-04-10訪 問(wèn) 量：96
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透明部件畸變與薄膜相位差不均勻性評(píng)估儀器 透明部件畸變與薄膜相位差不均勻性評(píng)估儀器
全尺寸適配：產(chǎn)品矩陣覆蓋從顯微鏡級(jí)微觀樣品到約 50cm 大尺寸工件，滿足不同場(chǎng)景的測(cè)量需求。
PA 系列（低相位差場(chǎng)景）：面向 0~130nm 低相位差測(cè)量，搭載 500 萬(wàn)像素高分辨率成像，可高速、高精度測(cè)量復(fù)折射率 / 位相差分布，適配玻璃制品、鏡頭等位相差較小的測(cè)量對(duì)象。
WPA 系列（高相位差場(chǎng)景）：采用三波長(zhǎng)測(cè)量技術(shù)，將位相差測(cè)量范圍拓展至 0~3500nm，專門針對(duì)位相差較大的透明樹脂制品，解決高相位差樣品的精準(zhǔn)測(cè)量難題。
非接觸式無(wú)損檢測(cè)：無(wú)需破壞樣品，即可完成相位差、畸變、復(fù)折射率分布的全方面評(píng)估，保障樣品完整性。
高分辨率成像：500 萬(wàn)像素成像系統(tǒng)，精準(zhǔn)捕捉微觀相位差不均勻性，定位微小缺陷與應(yīng)力分布。
| 參數(shù)項(xiàng) | PA 系列 | WPA 系列 |
|---|---|---|
| 相位差測(cè)量范圍 | 0～130nm | 0～3500nm |
| 核心技術(shù) | 單波長(zhǎng)高分辨率測(cè)量 | 三波長(zhǎng)位相差測(cè)量技術(shù) |
| 分辨率 | 500 萬(wàn)像素 | 500 萬(wàn)像素 |
| 適用場(chǎng)景 | 玻璃制品、鏡頭等低相位差透明部件 | 透明樹脂制品等高相位差透明部件 |
| 測(cè)量能力 | 復(fù)折射率 / 位相差分布、畸變、相位差不均勻性 | 復(fù)折射率 / 位相差分布、畸變、相位差不均勻性 |
| 樣品尺寸覆蓋 | 顯微鏡尺寸～約 50cm 大尺寸 | 顯微鏡尺寸～約 50cm 大尺寸 |
光學(xué)元件制造：玻璃鏡片、鏡頭、光學(xué)薄膜的相位差、畸變、應(yīng)力分布檢測(cè)，保障光學(xué)性能。
透明樹脂行業(yè)：透明樹脂制品的高相位差測(cè)量，質(zhì)控產(chǎn)品成型質(zhì)量與內(nèi)部應(yīng)力。
材料研發(fā)：透明材料、薄膜的復(fù)折射率、相位差分布研究，助力新材料研發(fā)。
工業(yè)質(zhì)控：透明部件的在線 / 離線全檢，識(shí)別相位差不均勻性與畸變?nèi)毕荨?/p>
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