日本 Takano 微小載荷位移測量儀器

日本 Takano 微小載荷位移測量儀器日本 Takano TST 系列微小載荷位移測量儀，專為高精度微小位移與載荷測試設(shè)計(jì)，可同步測量位移、應(yīng)力、電阻值，精度達(dá) 0.1μm 與 0.0001N，支持實(shí)時(shí)圖表與視頻保存，廣泛用于探針、微彈簧、壓電執(zhí)行器等精密器件的研發(fā)與耐久試驗(yàn)。

產(chǎn)品型號(hào)：TST 系列
廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商
更新時(shí)間：2026-04-11
訪問量：135

立即咨詢

聯(lián)系電話：13823182047

詳細(xì)介紹

日本 Takano 微小載荷位移測量儀器日本 Takano 微小載荷位移測量儀器

一、產(chǎn)品定位

Takano TST 系列是日本タカノ株式會(huì)社專為微小載荷、微小位移測量開發(fā)的高精度測試設(shè)備。它突破了傳統(tǒng)單一參數(shù)測量的局限，可在加載過程中同步采集位移、載荷、電阻值三大核心物理量，為材料研發(fā)、器件可靠性評(píng)估提供完整的數(shù)據(jù)支撐。

二、核心功能與特點(diǎn)

三參數(shù)同步測量
可一次性完成位移、應(yīng)力（荷重）、電阻值的同步采集，無需多臺(tái)設(shè)備分別測試，大幅縮短測試周期，確保數(shù)據(jù)的一致性與可比性。
微米級(jí)精密控制
設(shè)備具備0.1 μm的位移分解能，可精準(zhǔn)捕捉極其細(xì)微的位移變化；同時(shí)應(yīng)力分解能低至0.0001 N，對(duì)微小載荷的變化響應(yīng)靈敏，適合探針、微彈簧、薄膜等軟質(zhì) / 微納結(jié)構(gòu)的檢測。
高精度與穩(wěn)定性
每 100 微米的測量誤差約為 0.5 微米，系統(tǒng)穩(wěn)定性高，數(shù)據(jù)重復(fù)性好，可滿足研發(fā)階段對(duì)高精度測量的嚴(yán)苛要求，也能勝任產(chǎn)線批量樣品的連續(xù)檢測。
智能數(shù)據(jù)可視化
測量過程中，系統(tǒng)會(huì)以圖表形式實(shí)時(shí)顯示位移 - 荷重、位移 - 電阻等曲線，并可同步記錄測量過程的視頻，便于后續(xù)復(fù)盤與分析，清晰呈現(xiàn)材料的動(dòng)態(tài)變化過程。
靈活操作與觀測
配備 ZOOM 鏡筒，可靈活調(diào)整觀測視角，詳細(xì)觀察樣品在加載過程中的狀態(tài)變化；同時(shí)支持自定義測量程序，可根據(jù)客戶特定的研發(fā)課題與測量需求進(jìn)行靈活定制。

三、主要應(yīng)用場景

設(shè)備廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、精密制造、電子元器件等領(lǐng)域，主要測量對(duì)象包括：

探針（Probe）的位移 - 應(yīng)力特性；
微彈簧、橡膠等彈性材料的形變與載荷關(guān)系；
壓電執(zhí)行器、MEMS 器件的位移響應(yīng)及電氣特性；
各類薄膜、涂層的力學(xué)性能評(píng)估。

同時(shí)，也適用于材料研發(fā)階段的耐久試驗(yàn)和連續(xù)測量評(píng)估，是評(píng)估設(shè)備或部件物理特性的理想選擇。

四、設(shè)備配套與服務(wù)

我們提供完整的系統(tǒng)集成與專業(yè)的技術(shù)支持，包括設(shè)備的現(xiàn)場安裝調(diào)試、操作培訓(xùn)、測量方案制定等服務(wù)。同時(shí)，支持根據(jù)客戶的特定需求進(jìn)行系統(tǒng)定制，助力客戶高效解決研發(fā)與生產(chǎn)中的測量難題。

留言詢價(jià)