
PRODUCT CLASSIFICATION
產(chǎn)品分類產(chǎn)品展示/ Product display





日本 NPS 電阻率 片電阻測量儀器日本 NPS sigma-5+ 四探針法電阻率 / 片電阻測量儀,專為半導(dǎo)體、液晶行業(yè)設(shè)計,可高精度測量硅晶圓、LCD 基板、金屬薄膜的方塊電阻與體積電阻,支持寬量程、自動校準(zhǔn)、溫度補(bǔ)償,桌面緊湊設(shè)計,是半導(dǎo)體前道工序、導(dǎo)電材料研發(fā)的檢測設(shè)備。
產(chǎn)品型號:sigma-5+
廠商性質(zhì):經(jīng)銷商
更新時間:2026-04-11
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日本 NPS 電阻率 片電阻測量儀器 日本 NPS 電阻率 片電阻測量儀器
成熟測量原理:采用標(biāo)準(zhǔn)四探針法,消除接觸電阻影響,實現(xiàn)高精度、重復(fù)性好的電阻測量,適配低電阻到高電阻的寬量程需求。
半導(dǎo)體級精度:專為硅晶圓、LCD 基板設(shè)計,可滿足半導(dǎo)體前道工序的檢測精度要求,測量結(jié)果可直接用于工藝驗證與品質(zhì)管控。
自動校準(zhǔn)與量程:開機(jī)自動零點校準(zhǔn),可自動設(shè)置最佳電流與量程,無需手動調(diào)節(jié),降低人為誤差。
誤差抑制技術(shù):通過電流極性切換測量,整流性抑制接觸誤差,大幅提升測量穩(wěn)定性。
溫度補(bǔ)償功能:內(nèi)置半導(dǎo)體用溫度補(bǔ)償,支持自定義補(bǔ)償系數(shù),可消除溫度變化對測量結(jié)果的影響。
數(shù)據(jù)接口與打印:配備數(shù)據(jù)打印機(jī)接口與數(shù)據(jù)連接接口,支持測量數(shù)據(jù)導(dǎo)出、平均值計算與打印,適配研發(fā)報告與生產(chǎn)記錄。
厚度校正功能:支持試樣厚度校正,可直接計算體積電阻率,無需額外換算。
可選樣品臺:可搭配專用樣品臺(如 RG-5),適配不同尺寸的晶圓、基板樣品,操作更便捷。
專為實驗室與產(chǎn)線質(zhì)檢設(shè)計的桌面式結(jié)構(gòu),占用空間小,安裝便捷,無需復(fù)雜的外部設(shè)備即可使用。
半導(dǎo)體制造:硅錠、晶圓制造工藝中,薄膜形成、摻雜處理后的產(chǎn)品檢測;
液晶面板行業(yè):LCD 基板成膜工序的導(dǎo)電性能檢測;
導(dǎo)電材料研發(fā):金屬薄膜、導(dǎo)電涂層、導(dǎo)電漿料等材料的電阻特性測試;
光伏行業(yè):太陽能電池硅片的方塊電阻與電阻率檢測。
日本 NPS 20 余年技術(shù)沉淀:專為半導(dǎo)體行業(yè)設(shè)計的高精度測量方案,性能穩(wěn)定可靠;
全流程誤差抑制:自動校準(zhǔn)、極性切換、溫度補(bǔ)償三重誤差控制,測量精度行業(yè);
寬量程適配:低電阻到高電阻全覆蓋,一臺設(shè)備滿足多品類導(dǎo)電材料檢測需求;
數(shù)據(jù)化管理:支持?jǐn)?shù)據(jù)導(dǎo)出、打印與平均值計算,適配研發(fā)與生產(chǎn)全流程;
緊湊便捷設(shè)計:桌面式結(jié)構(gòu),操作簡單,無需專業(yè)技術(shù)人員即可上手。
主機(jī)(測量儀本體)
專用四探針探頭(可選配不同規(guī)格)
樣品臺(如 RG-5,可選配)
數(shù)據(jù)打印機(jī)(可選配)
數(shù)據(jù)連接線
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