日本 Uniopt  脈理観察器 可視化設(shè)備 日本 Uniopt  脈理観察器 可視化設(shè)備

1. 產(chǎn)品定位與核心價值

2. 核心技術(shù)與工作原理

• 舒利倫法（Schlieren Method）應用：通過偏光光學系統(tǒng)與光路干涉原理，將材料內(nèi)部微小的折射率變化（脈理、應力、氣泡、雜質(zhì)）轉(zhuǎn)化為可視的色彩與明暗對比度變化，實現(xiàn)可視化檢測。

• 高感度光學配置：搭載高感度相機與超高輝度白色 LED 光源，捕捉微弱的折射率變化，即使是 1nm 級的微小波動也能清晰識別。

• 大視野設(shè)計：配備 10 倍變焦鏡頭，觀測視野可達 Φ75mm，適配從小型基板到大型光學元件的批量檢測。

3. 核心產(chǎn)品特點

• 操作簡便：無需專業(yè)訓練，僅需將樣品置于載臺，通過監(jiān)視器即可觀測，結(jié)果直觀，大幅降低檢測門檻。

• 高靈敏度：依托高感度相機與優(yōu)質(zhì)光學系統(tǒng)，對屈折率亂れ的識別能力，精準定位微小缺陷。

• 無損非接觸：不接觸樣品、不破壞樣品結(jié)構(gòu)，保護珍貴樣品與成品。

• 大視野適配：Φ75mm 寬廣觀測面積，適配大尺寸樣品檢測，提升批量檢測效率。

• 高效檢測：樣品無需前處理，直接檢測，大幅縮短檢測時間，適配生產(chǎn)線節(jié)拍。

4. 核心規(guī)格參數(shù)

5. 適用應用分野

• 光學ガラス（光學玻璃）：光學透鏡、棱鏡、玻璃基板的脈理與內(nèi)部應力檢測，保障光學透光率與成像質(zhì)量。

• 化合物半導體ウェハー（化合物半導體晶圓）：GaAs、InP、SiC 等晶圓的結(jié)晶缺陷、晶格畸變檢測，為高頻、功率半導體器件制造提供核心數(shù)據(jù)。

• 流體観測実験（流體觀測實驗）：流體力學、流場可視化分析實驗。

• 高分子材料：塑料、樹脂等透明制品的內(nèi)部均勻性、氣泡、應力檢測。

6. 產(chǎn)品亮點

• 低成本高效方案：以緊湊結(jié)構(gòu)實現(xiàn)光學檢測功能，性價比。

• 直觀可視化：通過顏色變化直接反映折射率變化，無需復雜數(shù)據(jù)分析。

• 空間節(jié)省：鋁型材框架設(shè)計，結(jié)構(gòu)緊湊占地小，適配辦公室、生產(chǎn)現(xiàn)場靈活布置。

• 日本精工品質(zhì)：Uniopt 專注光學測量解決方案，設(shè)備穩(wěn)定性高，數(shù)據(jù)精準可靠。