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PRODUCT CLASSIFICATION
產(chǎn)品分類產(chǎn)品展示/ Product display
HINDS INSTRUMENTS 雙折射成像顯微鏡儀器美國 HINDS INSTRUMENTS Exicor® 微型成像儀™雙折射成像顯微鏡，延遲重復(fù)性≤0.5nm，支持紅 / 橙 / 綠 / 藍(lán)多波長測量，最高 0.18μm 分辨率，15 秒快速成像，適配生物結(jié)構(gòu)、玻璃、晶體等有機 / 無機樣品，為學(xué)術(shù)與工業(yè)界提供精準(zhǔn)的雙折射評估方案。
產(chǎn)品型號：Exicor® 成像儀™廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商更新時間：2026-04-10訪 問 量：101
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HINDS INSTRUMENTS 雙折射成像顯微鏡儀器 HINDS INSTRUMENTS 雙折射成像顯微鏡儀器
超高測量精度：延遲重復(fù)性≤0.5nm（3 sigma），可精準(zhǔn)捕捉納米級雙折射變化，滿足低級別雙折射測量的需求。
多波長靈活測量：支持紅、橙、綠、藍(lán)四種光源波長，適配不同樣品的光學(xué)特性，拓展測量場景。
寬測量范圍：延遲測量范圍 2nm - 0.5λ（單色），相位解包裹后可達(dá) 3500nm，覆蓋從微小應(yīng)力到厚樣品的全場景測量。
高速成像效率：標(biāo)稱測量速度 15 秒，大幅提升檢測效率，適配批量樣品檢測需求。
多倍率光學(xué)配置：標(biāo)配 2/5/10/20 倍物鏡，分辨率從 2μm 到 0.18μm 可調(diào)，視場覆蓋 4.941×4.123mm 到 0.437×0.364mm，滿足從宏觀到微觀的全尺度觀測。
高分辨率成像系統(tǒng)：搭載 2464×2056px、12 位圖像傳感器，成像細(xì)節(jié)清晰，數(shù)據(jù)精準(zhǔn)可靠。
| 參數(shù)項 | 規(guī)格詳情 |
|---|---|
| 品牌 | HINDS INSTRUMENTS（美國） |
| 產(chǎn)品型號 | Exicor® 微型成像儀™ |
| 延遲重復(fù)性 | ≤0.5 nm (3 sigma) |
| 光源波長 | 紅色、橙色、綠色、藍(lán)色 |
| 延遲測量范圍 | 2 nm - 0.5λ (1 色)，相位解包裹至 3500 nm |
| 測量速度 | 標(biāo)稱 15 秒 |
| 底座尺寸 | 36.1 cm × 26.5 cm |
| 設(shè)備高度 | 77.1 cm |
| 工作臺行程 (x,y) | 75 mm，56 mm |
| 圖像傳感器 | 2464 px × 2056 px，12 位 |
| 物鏡倍率與參數(shù) | 2 倍：分辨率 2μm，視場 4.941×4.123mm5 倍：分辨率 0.74μm，視場 1.83×1.53mm10 倍：分辨率 0.36μm，視場 0.876×0.731mm20 倍：分辨率 0.18μm，視場 0.437×0.364mm |
生命科學(xué)：生物組織結(jié)構(gòu)（如植物根莖、生物組織切片）雙折射測量，研究細(xì)胞結(jié)構(gòu)與力學(xué)特性。
材料科學(xué)：玻璃、晶體、光學(xué)薄膜等無機 / 有機材料的雙折射、應(yīng)力分布檢測。
工業(yè)質(zhì)控：光學(xué)元件、半導(dǎo)體材料的應(yīng)力與缺陷分析，保障產(chǎn)品性能。
學(xué)術(shù)科研：高校、科研院所的材料物理、生物力學(xué)等領(lǐng)域的基礎(chǔ)研究。
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