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PRODUCT CLASSIFICATION
產(chǎn)品分類產(chǎn)品展示/ Product display
toyoseiko正電子壽命測(cè)定裝置缺陷檢測(cè)儀可實(shí)現(xiàn)亞納米級(jí)（原子級(jí)別） 微小缺陷、空隙的精準(zhǔn)評(píng)估，為材料微觀結(jié)構(gòu)分析提供依據(jù)；測(cè)量深度：針對(duì)鋼材，可檢測(cè)表面至約 50μm 深度的缺陷；核心優(yōu)勢(shì)：非接觸、非破壞性檢測(cè)，且無(wú)需專業(yè)放射操作資格，可在普通實(shí)驗(yàn)室使用。
產(chǎn)品型號(hào)：TypeL-ⅡAS廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商更新時(shí)間：2026-03-04訪 問(wèn) 量：10
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toyoseiko正電子壽命測(cè)定裝置缺陷檢測(cè)儀
toyoseiko正電子壽命測(cè)定裝置缺陷檢測(cè)儀
檢測(cè)能力：可實(shí)現(xiàn)亞納米級(jí)（原子級(jí)別） 微小缺陷、空隙的精準(zhǔn)評(píng)估，為材料微觀結(jié)構(gòu)分析提供依據(jù)；
測(cè)量深度：針對(duì)鋼材，可檢測(cè)表面至約 50μm 深度的缺陷；
核心優(yōu)勢(shì)：非接觸、非破壞性檢測(cè)，且無(wú)需專業(yè)放射操作資格，可在普通實(shí)驗(yàn)室使用。
適用材料：鋼鐵、鋁、鈦等各類金屬，以及玻璃、高分子等非晶質(zhì)材料；
典型用途：可用于金屬噴丸處理的品質(zhì)確認(rèn)、金屬疲勞損傷的評(píng)估，也可拓展至半導(dǎo)體、電池材料的原子缺陷檢測(cè)、高分子材料的自由體積評(píng)估等場(chǎng)景。
反符合（AC）系統(tǒng)：可辨別試樣另一側(cè)釋放的正電子信號(hào)，無(wú)需將放射源夾在試樣中間，單塊試樣也可測(cè)量，同時(shí)簡(jiǎn)化放射源操作，提升使用安全性；
自動(dòng)設(shè)置系統(tǒng)：程序自動(dòng)完成測(cè)量所需參數(shù)設(shè)定，完成后可立即啟動(dòng)測(cè)量，且能自動(dòng)完成初步解析，操作便捷；
安全的放射源：使用符合《放射線障害防止法》規(guī)限值的密封 Na-22 正電子源（~1 MBq），無(wú)特殊使用資質(zhì)要求。
| 型號(hào) | 本體尺寸（mm） | 重量 | 特色 |
|---|---|---|---|
| TypeL-ⅡAS（自動(dòng)進(jìn)樣款） | 490×490×350 | 約 50kg | 配 4/8 個(gè) 50×50mm 試樣夾具，支持批量試樣檢測(cè) |
| TypeL-Ⅱ（基礎(chǔ)款） | 400×400×358 | 25kg | 小型精密，適配研究開(kāi)發(fā)現(xiàn)場(chǎng)的小試樣高精度測(cè)量 |
| TypeL-P（便攜款） | 120×120×100 | 約 2kg | 超小超輕，筆記本電腦為選配，適配現(xiàn)場(chǎng)快速檢測(cè) |
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